标准简介
本标准规定了利用X射线衍射线宽化法来测定纳米材料晶粒尺寸和微观应变的方法。本标准采用的计算方法是近似函数法。 本标准适用于测定晶粒尺寸一般不大于100nm，微观应变一般不大于0.1%的纳米材料。英文名称：Determination of crystallite size and micro-strain of nano-materials—X-ray diffraction line broadening method
标准状态：现行
中标分类：仪器、仪表>>试验机与无损探伤仪器>>N78X射线、磁粉、荧光及其他探伤仪器
ICS分类：试验>>19.100无损检测
发布部门：国家质量监督检验检疫.
发布日期：2009-04-01
实施日期：2009-12-01
出版日期：2009-12-01
页数：12页
前言
本标准的附录Ａ 为规范性附录。本标准由全国微束标准化技术委员会提出并归口。本标准起草单位：钢铁研究总院、首钢技术研究院。本标准主要起草人：方建锋、郑毅、李琪、张晋远、柳春兰、朱瑞珍。
