标准简介
本标准规定了用直流两探针测量硅和锗单晶锭电阻率的方法。本标准适用于测量截面积均匀的圆形、方形或矩形单晶锭的电阻率。英文名称：Test method for rseistivity of silicon and germanium bars using a two-point probe
标准状态：作废
替代情况：替代GB 1551-1979;GB 5253-1985;被GB/T 1551-2009代替
中标分类：冶金>>金属理化性能试验方法>>H21金属物理性能试验方法
ICS分类：冶金>>金属材料试验>>77.040.30金属材料化学分析
发布部门：国家技术监督局
发布日期：1995-04-18
实施日期：1995-01-02
作废日期：2010-06-01
页数：平装16开， 页数：13， 字数：20千字
前言
金属物理性能试验方法相关标准
