标准简介
本标准规定了电子级水中二氧化硅的分光光度测试方法。 本标准适用于电子级水中二氧化硅的测定，其中检出限为1μg/L。英文名称：Test method for SiO2 in electronic grade water by spectrophotometer
标准状态：现行
替代情况：替代GB/T 11446.6-1997
中标分类：电子元器件与信息技术>>电子设备专用材料、零件、结构件>>L90电子技术专用材料
ICS分类：31-030
发布部门：国家质量监督检验检疫.
发布日期：2013-12-31
实施日期：2014-08-15
出版日期：2014-08-15
页数：8页
前言
GB/T11446预计结构如下:———GB/T11446.1 电子级水;———GB/T11446.2 (待定);———GB/T11446.3 电子级水测试方法通则;———GB/T11446.4 电子级水电阻率的测试方法;———GB/T11446.5 电子级水中痕量金属的原子吸收分光光度测试方法;———GB/T11446.6 电子级水中二氧化硅的分光光度测试方法;———GB/T11446.7 电子级水中痕量阴离子的离子色谱测试方法;———GB/T11446.8 电子级水中总有机碳的测试方法;———GB/T11446.9 电子级水中微粒的仪器测试方法;———GB/T11446.10 电子级水中细菌总数的滤膜培养测试方法。本部分为GB/T11446的第6部分。本部分按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。本部分代替GB/T11446.6—1997《电子级水中二氧化硅的分光光度测试方法》。本部分与GB/T11446.6—1997相比,主要有下列变化:———将“9干扰因素”修改为“5干扰因素”(见第5章);———“工作曲线的绘制”中,根据待测水样中二氧化硅含量,明确将工作曲线分为两组(见9.1.1和9.1.2);———增加了“对水样独立进行两次测定,取其平均值”(见9.3.3)。本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出。本部分由中国电子技术标准化研究所归口。本部分起草单位:信息产业部专用材料质量监督检验中心、中国科学院半导体研究所、中国电子技术标准化研究院、中国电子科技集团公司第四十六研究所。本部分主要起草人:王奕、褚连青、何秀坤、段曙光、提刘旺、刘筠。本部分所代替标准的历次版本发布情况为:———GB/T11446.6—1989、GB/T11446.6—1997。
