标准简介
本标准规定了用电子背散射衍射法(EBSD)对抛光截面进行平均晶粒尺寸的测定方法，包含与晶体试样中的位置相关的取向、取向差和花样质量因子的测量要求[1]。 注1： 使用光学显微镜测定晶粒尺寸已为大家普遍接受，与其相比，EBSD具有很多技术优势，如高的空间分辨率和晶粒取向的定量描述等。 注2： 该方法还可用于一些复杂材料（如双相材料）的晶粒尺寸测量。 注3： 对变形程度较大的试样进行分析时，需谨慎处理结果。英文名称：Microbeam analysis—Electron backscatter diffraction—Measurement of average grain size
标准状态：现行
中标分类：化工>>化工综合>>G04基础标准与通用方法
ICS分类：化工技术>>分析化学>>71.040.40化学分析
发布部门：国家市场监督管理总局.
发布日期：2020-03-06
实施日期：2021-02-01
出版日期：2020-03-01
页数：28页【彩图】
前言
基础标准与通用方法相关标准
