标准简介
本标准以*少量的资料描述了用X射线光电子能谱测量绝缘样品内能级结合能,及将在报告其分析结果时所采用的荷电控制和荷电校正方法,也给出了在结合能测量过程中对于荷电控制和荷电校正有用的方法资料。英文名称：Surface chemical analysis—X-ray photoelectron spectroscopy—Reporting of methods used for charge control and charge correction
标准状态：现行
中标分类：化工>>化工综合>>G04基础标准与通用方法
ICS分类：化工技术>>分析化学>>71.040.40化学分析
发布部门：国家质量监督检验检疫.
发布日期：2010-09-26
实施日期：2011-08-01
页数：16页
前言
本标准按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。本标准等同采用ISO19318:2004《表面化学分析 X射线光电子能谱 荷电控制和荷电校正方法的报告》。本标准由全国微束分析标准化技术委员会提出并归口。本标准负责起草单位:北京师范大学分析测试中心。本标准主要起草人:吴正龙。
