标准简介
本标准规定了纳米材料电阻率的接触式测量方法，包括测量原理、仪器设备、测量条件、测量步骤、影响因素等。 本标准中静态四探针法（A法）适用于纳米薄膜、纳米浆料和纳米粉体的电阻率测量；动态四探针法（B法）、动态四线两电*法（C法）适用于纳米粉体电阻率的测量。英文名称：Nanotechnology—Contacting methods for measuring the resistivity of nanomaterials—General rules
标准状态：现行
中标分类：冶金>>金属理化性能试验方法>>H21金属物理性能试验方法
ICS分类：计量学和测量、物理现象>>电学、磁学、电和磁的测量>>17.220.20电和磁量值的测量
发布部门：国家市场监督管理总局.
发布日期：2021-05-21
实施日期：2021-12-01
出版日期：2021-05-01
页数：24页【彩图】
前言
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