标准简介
本标准描述了红外硫系光学薄膜（以下简称“薄膜”）折射率的测试原理、测试条件、仪器设备、样品、测试步骤、数据处理与折射率计算、计算精度和测试报告。 本标准适用于红外硫系光学薄膜折射率的测试，其他光学薄膜折射率的测试可参照使用。英文名称：Test method for refractive index of infrared optical chalcogenide films
标准状态：现行
中标分类：仪器、仪表>>仪器、仪表综合>>N05仪器、仪表用材料和元件
ICS分类：计量学和测量、物理现象>>光学和光学测量>>17.180.01光学和光学测量综合
发布部门：国家市场监督管理总局.
发布日期：2021-08-20
实施日期：2022-03-01
出版日期：2021-08-01
页数：16页【彩图】
前言
仪器、仪表用材料和元件相关标准
