标准简介
本规范适用于半导体集成电路外壳（以下简称外壳），它规定了对外壳进行质量评定时的总程序，并给出了下述测试和试验的总原则：电特性测试；气候和机械试验。对各类外壳，其详细规范和本规定构成对外壳质量的完整要求。英文名称：Generic specification of packages for semiconductor integrated circuits
标准状态：作废
替代情况：作废;
中标分类：电子元器件与信息技术>>微电路>>L56半导体集成电路
发布部门：国家标准局
发布日期：1986-07-31
实施日期：1987-08-01
页数：24页
前言
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