标准简介
本标准规定了使用适当的参考物质对扫描电镜(SEM)图像的放大倍率进行校准的方法。本标准限于对由参考物质上线距大小的范围所决定的放大倍率进行校准。本标准不适用于专用测长型扫描电镜。英文名称：Microbeam analysis—Scanning electron microscopy—Guidelines for calibrating image magnification
标准状态：作废
替代情况：被GB/T 27788-2020代替
中标分类：仪器、仪表>>光学仪器>>N32放大镜与显微镜
ICS分类：成像技术>>37.020光学设备
发布部门：国家质量监督检验检疫.
发布日期：2011-12-30
实施日期：2012-08-01
作废日期：2021-04-01
出版日期：2012-08-01
页数：20页
前言
本标准按GB/T1.1—2009给出的规则编写。本标准采用翻译法等同采用ISO16700:2004《微束分析 扫描电镜 图像放大倍率校准导则》(英文版)。本标准由全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC38)提出并归口。本标准主要起草单位:中国地质科学院矿产资源研究所、中国科学院上海硅酸盐研究所、上海第二军医大学。本标准主要起草人:陈振宇、周剑雄、李香庭、杨勇骥。
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