标准简介
英文名称：Identification cards—Thin flexible cards—Part 3:Test methods
标准状态：现行
中标分类：电子元器件与信息技术>>计算机>>L64数据媒体
ICS分类：信息技术、办公机械设备>>信息技术应用>>35.240.15识别卡和有关装置
发布部门：国家质量监督检验检疫.
发布日期：2012-12-31
实施日期：2013-06-01
出版日期：2013-06-01
页数：36页
前言
前言 Ⅲ引言 Ⅳ1 范围 12 规范性引用文件 13 术语和定义 24 物理特性测试方法 34.1 概述 34.2 尺寸 44.3 厚度 44.4 分离力 54.5 卷绕 64.6 耐破度 64.7 挺度 64.8 耐折度 74.9 灰分 74.10 平滑度 74.11 不透明度(纸背衬)和阻光度(700nm~1000nm) 74.12 摩擦系数和堆垛力 84.13 反射因数 84.14 透气度 84.15 施胶度 84.16 耐撕裂强度 94.17 抗分层力 94.18 冷裂温度(脆度) 135 磁条物理特性的试验方法 145.1 样品准备和保存 145.2 条件和测试环境 145.3 凸起 145.4 轮廓偏差 155.5 粗糙度Ra 和Rz 155.6 翘曲 165.7 粘合 165.8 磨损试验 16__ 5.9 磁条尺寸测量 176 静磁特性的测试方法 176.1 原理 176.2 仪器 176.3 样品的准备和保存 186.4 规程 186.5 结果表述 196.6 矫顽力HcM 206.7 矩形比SQ 206.8 开关场分布(SFD) 206.9 测试报告 207 动态磁特性测试方法 217.1 原理 217.2 基准卡 217.3 仪器 217.4 准备和样品保存 217.5 测试方法 227.6 结果表述 227.7 测试报告 228 带非接触式芯片和天线的卡片测试 238.1 相连卡的芯片/天线连接的可靠性 238.2 单张卡的芯片/天线连接的可靠性 248.3 耐划痕测试后的芯片/天线连接性测试 258.4 卡的耐折皱或折叠测试 26参考文献 28
