标准简介
本标准规定了俄歇电子能谱和X射线光电子能谱横向分辨率、分析面积和分析器所能检测到的样品面积的测量方法。本标准适用于俄歇电子能谱和X射线光电子能谱横向分辨率、分析面积和分析器的检测。英文名称：Surface chemical analysis—Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy—Determination of lateral resolution,analysis area, and sample area viewed by the analyser
标准状态：现行
中标分类：化工>>化工综合>>G04基础标准与通用方法
ICS分类：化工技术>>分析化学>>71.040.40化学分析
发布部门：国家质量监督检验检疫.
发布日期：2013-07-19
实施日期：2014-03-01
出版日期：2014-03-01
页数：20页
前言
本标准依据GB/T1.1—2009和GB/T20000.2—2009给出的规则起草。本标准使用翻译法等同采用ISO/TR19319:2003《表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率、分析面积和分析器所能检测到的样品面积的测定》。本标准由全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC38)提出并归口。本标准负责起草单位:厦门爱劳德光电有限公司、清华大学化学系、中国科学院化学所。本标准起草人:王水菊、岑丹霞、姚文清、李展平、刘芬。
