标准简介
本标准规定了Ⅲ-Ⅴ族氮化物 LED外延片内量子效率的测试方法。本标准适用于基于Ⅲ-Ⅴ族氮化物的量子阱 LED内量子效率的测试。英文名称：Test methods for internal quantum efficiency of nitride LED epitaxial layers
标准状态：现行
中标分类：冶金>>金属理化性能试验方法>>H21金属物理性能试验方法
ICS分类：冶金>>金属材料试验>>77.040.99金属材料的其他试验方法
发布部门：国家质量监督检验检疫.
发布日期：2014-12-31
实施日期：2015-09-01
出版日期：2015-09-01
页数：12页
前言
本标准按照 GB/T1.1—2009给出的规则起草。请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。本标准由全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC203)和全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会(SAC/TC203/SC2)共同提出并归口。本标准起草单位:中国科学院半导体研究所。本标准主要起草人:魏学成、赵丽霞、王军喜、曾一平、李晋闽。
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