标准简介
本标准规定了进行电子探针分析时的入射电子束、波谱仪和试样的实验参数测定的一般原则,并规定了束流、束流密度、死时间、波长分辨率、背底、分析面积、分析深度和分析体积的测定过程。本标准适用于垂直入射电子束对抛光试样的分析,对于其他实验条件,这些实验参数只能作为参考。本标准不适用于能谱法。英文名称:Microbeam analysis—Electron probe microanalysis—Guidelines for the determination of experimental parameters for wavelength dispersive spectroscopy
标准状态:现行
中标分类:化工>>化工综合>>G04基础标准与通用方法
ICS分类:化工技术>>分析化学>>71.040.50物理化学分析方
发布部门:国家质量监督检验检疫.
发布日期:2014-06-09
实施日期:2014-12-01
出版日期:2014-12-01
页数:20页
前言
本标准按照 GB/T1.1—2009给出的规则起草。本标准使用重新起草法修改采用ISO14594:2009《微束分析 电子探针显微分析 波谱法实验参数测定导则》(英文版)。本标准与ISO14594:2009《微束分析 电子探针显微分析 波谱法实验参数测定导则》(英文版)的主要技术差异:———用 GB/T27025:2008代替ISO Guide25:1990;———将第7章中ISO Guide25:1990的13.2项修改为 GB/T27025—2008的5.10。本标准由全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC38)提出并归口。本标准起草单位:中国科学院上海硅酸盐研究所。本标准主要起草人:曾毅、李香庭、吴伟。