标准简介
本标准规定了透射电镜（TEM）在很大放大倍率范围内所记录的图像的校准方法。用于校准的标准物质具有周期性结构，例如衍射光栅复型、半导体的超点阵结构或 X 射线分析的分光晶体以及碳、金或硅的晶体晶格像。 本标准适用于记录在照相胶片上、或成像板上、或数字相机内置传感英文名称：Microbeam analysis—Analytical transmission electron microscopy—Methods for calibrating image magnification by using reference materials having periodic structures
标准状态：现行
中标分类：化工>>化工综合>>G04基础标准与通用方法
ICS分类：化工技术>>分析化学>>71.040.40化学分析
发布部门：国家质量监督检验检疫.
发布日期：2017-07-12
实施日期：2018-06-01
出版日期：2017-07-28
页数：40页
前言
基础标准与通用方法相关标准
