标准简介
本标准规定了半导体集成电路 低电压差分信号（LVDS，Low Voltage Differential Signaling）电路（以下称为器件）静态参数、动态参数测试方法的基本原理。 本标准适用于低电压差分信号电路静态参数、动态参数的测试。英文名称：Semiconductor integrated circuits—Measuring method of low voltage differential signaling circuitry
标准状态：现行
中标分类：电子元器件与信息技术>>微电路>>L56半导体集成电路
ICS分类：电子学>>31.200集成电路、微电子学
发布部门：国家质量监督检验检疫.
发布日期：2018-03-15
实施日期：2018-08-01
出版日期：2018-01-01
页数：40页
前言
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