GB/T 36477-2018 半导体集成电路 快闪存储器测试方法

百检网 2022-10-25

标准简介

本标准规定了半导体集成电路快闪存储器电参数、时间参数和存储单元功能测试的基本方法。 本标准适用于半导体集成电路领域中快闪存储器电参数、时间参数和存储单元功能的测试。
英文名称:Semiconductor integrated circuit—Measuring methods for flash memory
标准状态:现行
中标分类:电子元器件与信息技术>>微电路>>L56半导体集成电路
ICS分类:电子学>>31.200集成电路、微电子学
发布部门:国家市场监督管理总局.
发布日期:2018-06-07
实施日期:2019-01-01
出版日期:2018-06-01
页数:20页

前言

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