标准简介
本标准规定了发光二*管芯片光参数、直流电参数以及静电放电敏感性的点测条件和点测方法。 本标准适用于批量生产的可见光发光二*管正装芯片和薄膜芯片的检测方法。紫外光、红外光发光二*管芯片以及外延片的点测也可参照使用。 本标准不适用于发光二*管芯片的热参数和交流特性测试。英文名称：Probe test method for light emitting diode chips
标准状态：现行
中标分类：电子元器件与信息技术>>半导体分立器件>>L45微波、毫米波二、三*管
ICS分类：电子学>>31.260光电子学、激光设备
发布部门：国家市场监督管理总局.
发布日期：2018-09-17
实施日期：2019-01-01
出版日期：2018-09-01
页数：12页
前言
微波、毫米波二、三*管相关标准
