标准简介
本标准采用光学腔，即半共集准光腔作为测试腔体来测试固体电介质的介电特性。本标准适用于可加工成片状的固体电介质材料。英文名称：Test method for complex permittivity of solid dielectric materials at millimeter wave frequencies using Quasi-Optic cavity technique
标准状态：现行
中标分类：电子元器件与信息技术>>电子设备专用材料、零件、结构件>>L90电子技术专用材料
ICS分类：电气工程>>绝缘流体>>29.040.20绝缘气体
发布部门：信息产业部（电子）
发布日期：1988-06-28
实施日期：1989-02-01
出版日期：1989-02-01
页数：9页
前言
电子技术专用材料相关标准
