标准简介
本规范规定了半导体集成电路电平转换器(以下简称器件)电特性测试方法的基本原理。本规范适用于半导体集成电路双*型电平转换器电特性的测试。英文名称:Semiconductor integrated circuits-General principles of measuring methods for level translator
标准状态:现行
替代情况:SJ/T 10804-1996(原标准号GB 6797-1986)
中标分类:电子元器件与信息技术>>微电路>>L55微电路综合
ICS分类:电子学>>31.200集成电路、微电子学
发布部门:信息产业部
发布日期:2000-12-28
实施日期:2001-03-01
作废日期:2011-08-15
出版日期:2001-02-01
页数:35页
前言
SJ/T 10734-1996 半导体含集成电路文字符号 电参数文字符号