YS/T 666-2008 工业镓化学分析方法 杂质素的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法

百检网 2022-10-29

标准简介

本标准规定了工业镓中硅、钠、钾、镁、钙、铝含量的测定方法。本标准适用于工业镓[99.9%≤ω(%)≤99.995%]中硅、钠、钾、镁、钙、铝含量的测定。
英文名称:Chemical analysis emthods of gallium for industrial use--Determination of impurity elements--Inductively coupled plasma atomic emission spectrometric method
标准状态:现行
中标分类:冶金>>金属化学分析方法>>H12轻金属及其合金分析方法
ICS分类:冶金>>有色金属>>77.120.99其他有色金属及其合金
发布部门:国家发展和改革委员会
发布日期:2008-03-12
实施日期:2008-09-01
出版日期:2008-05-01
页数:8页

前言

本标准附录A 为资料性附录。本标准由全国有色金属标准化技术委员会提出并归口。本标准由中国铝业股份有限公司河南分公司、中国有色金属工业标准计量质量研究所负责起草。本标准由中国铝业股份有限公司山东分公司、中国铝业股份有限公司贵州分公司参加起草。本标准主要起草人:梁倩、王书勤、王晓雯、张予秋、张新宇。

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