标准简介
本标准规定了静电复印光导体表面缺陷的测量条件、测量方法及测量报告。本标准适用于静电复印（打印、传真、多功能）设备用的光导体的外观质量及背景印迹的测量。英文名称：Test method of surface defect for photoconductor of electrostatic copying process
标准状态：现行
替代情况：替代JB/T 8268-1999
中标分类：仪器、仪表>>电影、照相、缩微、复印设备>>N47缩微复印机械
ICS分类：成像技术>>印制技术>>37.100.10印刷、复制设备
发布部门：工业和信息化部
发布日期：2015-04-30
实施日期：2015-10-01
出版日期：2015-10-01
页数：5页
前言
本标准按照GB/T 1.1-2009给出的规则起草。本标准代替JB/T 8268-1999《静电复印感光体表面缺陷测量方法》，与JB/T 8268-1999相比主要技术变化如下：——修改了标准名称，感光体改为光导体；——将适用范围中的感光体改为光导体，删除了硒鼓、硫化镉鼓等已不再使用的感光体，删除了反光镜可参照使用（见第1章，1999年版的第1章）；——修改了规范性引用文件（见第2章，1999年版的第2章）；——修改了测量环境条件（见3.1，1999年版的3.1）；——将有效测量范围放入了测量方法中，删除了测量范围示意图（见4.1.2，1999年版的3.2和图1）；——增加了测试用样机的要求（见3.2）；——修改了测量方法的编排格式（见第4章，1999年版的第4章）；——修改了目视检查的方法（见4.1，1999年版的4.1），删除了目视检查鼓表面示意图（见1999年版的图2）；——把缺陷版检查改为对比测量，并修改了检查方法（见4.2，1999年版的4.2）；——修改了背景印迹的测量方法（见4.3，1999年版的4.3）；本标准由中国机械工业联合会提出。本标准由全国复印机械标准化技术委员会（SAC/TC 147）归口。本标准起草单位：天津复印技术研究所、珠海天威飞马打印耗材有限公司、夏普办公设备（常熟）有限公司、理光图像技术（上海）有限公司深圳分公司、湖北鼎龙化学股份有限公司、柯尼卡美能达（中国）投资有限公司、上海富士施乐有限公司、兄弟（中国）商业有限公司、东芝泰格信息系统（深圳）有限公司、佳能（中国）有限公司。本标准主要起草人：刘慧玲、张希平、王强、刘生应、鲁丽平、陈挺、仇相如、麦洪琦、陈颂昌、鲁俊和。本标准所代替标准的历次版本发布情况为：——JB/T 8268-1995（GB 10996-1989）、JB/T 8268-1999。
