标准简介
本规程适用于测量范围至200mm,分度值为0.01mm的机械公法线千分尺和分辨力为0.001mm的数显公法线千分尺的首次检定、后续检定和使用中检验。英文名称：Verification Regulation of Common Normal Micrometer
标准状态：现行
替代情况：替代JJG 82-1998
发布部门：国家质量监督检验检疫.
发布日期：2010-03-02
实施日期：2010-09-02
出版日期：2010-09-02
页数：20页
前言
1 范围 (1)2 引用文献 (1)3 概述 (1)4 计量性能要求 (2)4.1 测量力 (2)4.2 刻线宽度及宽度差 (2)4.3 微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离 (2)4.4 微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对位置 (2)4.5 测量面及校对用量杆工作面的表面粗糙度 (2)4.6 测量面的平面度 (2)4.7 示值误差 (2)4.8 校对用量杆尺寸偏差和尺寸变动量 (3)4.9 漂移 (3)5 通用技术要求 (3)5.1 外观 (3)5.2 各部分相互作用 (4)6 计量器具控制 (4)6.1 检定条件 (4)6.2 检定项目 (4)6.3 检定方法 (5)6.4 检定结果的处理 (7)6.5 检定周期 (7)附录A 数显公法线千分尺示值误差测量结果的不确定度评定 (8)附录B 检定证书和检定结果通知书内页格式 (12)
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