标准简介
本标准适用于分度值为0.01mm，测量上限至500mm的外径千分尺；测量上限至25 mm的板厚、壁厚千分尺；以及分辨力为0.001mm，0.0001 mm，测量上限至500 mm的数显外径千分尺的首次检定、后续检定和使用中检验。英文名称：Verification Regulation of Micrometer
标准状态：现行
替代情况：替代JJG 21-1995
中标分类：综合>>计量>>A52长度计量
ICS分类：计量学和测量、物理现象>>17.040长度和角度测量
发布部门：国家质量监督检验检疫.
发布日期：2008-03-25
实施日期：2008-09-25
出版日期：2008-06-01
页数：28页
前言
1 范围 (1)2 引用文献 (1)3 概述 (1)4 计量性能要求 (3)4.1 测微螺杆的轴向串动和径向摆动 (3)4.2 测砧与测微螺杆测量面的相对偏移 (3)4.3 测力 (3)4.4 刻线宽度及宽度差 (3)4.5 指针与刻度盘的相对位置 (3)4.6 微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离 (3)4.7 微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对位置 (3)4.8 测量面的平面度 (3)4.9 数显外径千分尺的示值重复性 (3)4.10 数显外径千分尺任意位置时数值漂移 (4)4.11 两测量面的平行度 (4)4.12 示值误差 (4)4.13 数显外径千分尺细分误差 (5)4.14 校对用量杆 (5)5 通用技术要求 (6)5.1 外观 (6)5.2 各部分的相互作用 (6)6 计量器具控制 (6)6.1 检定条件 (6)6.2 检定项目 (6)6.3 检定方法 (7)6.4 检定结果的处理 (11)6.5 检定周期 (11)附录A 千分尺示值误差测量结果的不确定度评定 (12)附录B 数显千分尺示值误差测量结果的不确定度评定 (16)附录C 检定证书和检定结果通知书内页格式 (20)
