JJF 1254-2010 数显测高仪校准规范

百检网 2022-11-04

标准简介

本规范适用于分辨力为0.1μm、0.2μm、0.5μm和1μm,量程为0mm至1000mm的数显测高仪的校准。
英文名称:Calibration Specification for Height Measuring Instrument with Digital Display
标准状态:现行
发布部门:国家质量监督检验检疫.
发布日期:2010-05-11
实施日期:2010-11-11
出版日期:2010-11-11
页数:16页

前言

1 范围 (1)2 引用文献 (1)3 概述 (1)4 计量特性 (2)4.1 测量力 (2)4.2 垂直度 (2)4.3 示值变动性 (2)4.4 示值误差 (2)5 校准条件 (2)5.1 环境条件(2)5.2测量标准器及其他设备(3)6校准项目和校准方法(3)6.1测量力(3)6.2垂直度(3)6.3示值变动性(4)6.4示值误差(4)7校准结果表达(4)8复校时间间隔(4)附录A数显测高仪示值误差测量结果不确定度评定(5)附录B校准证书内容(8)

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