输入正向阈值电压<I>V</I><Sub>IT+</Sub>检测

正向电压 <I>V</I><Sub>F</Sub> GJB 128A-1997 《半导体分立器件试验方法》 GJB128A-1997 4011

正向电压（输入二极管）<I>V</I><Sub>F</Sub> SJ/T 2215-2015 半导体光电耦合器测试方法

栅-源阈值电压<I>V</I><Sub>GS（th）</Sub> GB/T 4586-1994 半导体器件 分立器件 第8部分:场效应晶体管

源栅阈值电压<I>V</I><Sub>GS(TO)</Sub> GB/T 4586-1994 半导体器件 分立器件 第8部分:场效应晶体管

输入正向阈值电压V<Sub>IT+</Sub> SJ/T 10741-2000 半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理

栅-源阈值电压（C型）（<I>V</I><Sub>GS</Sub><Sub>（</Sub><Sub>TO</Sub><Sub>）</Sub>） GB/T 4586-1994 半导体器件 分立器件 第8部分:场效应晶体管

输入正向阈值电压V<Sub>IT+</Sub> GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路

栅极-发射极阈值电压 <I>V</I><Sub>GE(th)</Sub> GB/T 29332-2012 半导体器件 分立器件 第9部分:绝缘栅双极晶体管(IGBT)

输入正向阈值电压<I>V</I><Sub>IT+</Sub> GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路