工作状态时<I>V</I><Sub>DD</Sub>电源电流<I> I</I><Sub>DD</Sub>检测

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工作状态时<I>V</I><Sub>DD</Sub>电源电流<I> I</I><Sub>DD</Sub>检测

相关标准

检测标准：半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理

检测对象：半导体集成电路MOS随机存储器

检测项目：工作状态时<I>V</I><Sub>DD</Sub>电源电流<I> I</I><Sub>DD</Sub>

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