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CMA、CNAS、CAL
样品支持快递取送/上门采样,数量及规格等视检测项而定
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检测标准:半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理
检测对象:模拟集成电路
检测项目:输入失调电压V <sub> OS </sub>
输入失调电压V<Sub>IO</Sub> SJ/T 10805-2000 半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理
咨询报价
输入失调电压V<Sub>OS SJ/T 10738-1996 半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理
失调电压V<Sub>os</Sub> GB/T 6798-1996 半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理
输入失调电压V<Sub>OS SJ/T 10805-2000 半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理
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