检测地点
检测周期
报告资质
样品及邮寄要求
价格
实验室遍布全国,就近分配
可加急,最快1.5个工作日(特殊样品除外)
CMA、CNAS、CAL
样品支持快递取送/上门采样,数量及规格等视检测项而定
电议(检测的标准和检测项目数量不同而价格不同)
24小时咨询电话
152-0173-3840
检测标准:半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路
检测对象:数字集成电路
检测项目:输入正向阈值电压V<Sub>IT+</Sub>
检测标准:半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理
输入阈值电压V<SUB>IT-</SUB> GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路
咨询报价
栅-源阈值电压V<Sub>GS</Sub><Sub>(</Sub><Sub>th</Sub><Sub>)</Sub> GB/T 4586-1994 半导体器件 分立器件 第8部分:场效应晶体管
阈值电压V<Sub>T</Sub> GB/T 14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
输入负向阈值电压V<Sub>IT</Sub> GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路
输入负向阈值电压V<Sub>IT</Sub> SJ/T 10741-2000 半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理
输入正向阈值电压V<Sub>IT+</Sub> SJ/T 10741-2000 半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理
栅-源阈值电压(C型)(<I>V</I><Sub>GS</Sub><Sub>(</Sub><Sub>TO</Sub><Sub>)</Sub>) GB/T 4586-1994 半导体器件 分立器件 第8部分:场效应晶体管
阈值电压V<Sub>TR<Sub> GB/T 14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
输入正向阈值电压V<Sub>IT+</Sub> GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路
输入正向阈值电压<I>V</I><Sub>IT+</Sub> GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路
上一篇《输入正向阈值电压<I>V</I><Sub>IT+</Sub>检测》
下一篇《输入法检测》
输入抗干扰能力检测
输入抗扰度检测
输入格式检测
输入格式与兼容性检测
输入格式兼容性检测
输入欠压保护检测
输入欠电压保护检测
输入欠电压告警检测
输入欠电压告警试验检测
输入正向阈值电压<I>V</I>
上海纺织品检测中心,防静电防水性
湖南哪里有面料检测机构?
服装质检包报告,甲醛含量耐水色牢
北京鞋质量检测去哪里,运动鞋减震
纽扣检测机构,色牢度耐冲击测试
美国鞋子测试去哪里,微生物富马酸
安全带检验机构,静态动态负荷外观
女鞋材质检测报告,HG/T 24
温州哪里检测有机棉,马克隆尼值重
美规家具面料防水测试,面料的防水
电话咨询
扫码优惠