检测地点
检测周期
报告资质
样品及邮寄要求
价格
实验室遍布全国,就近分配
可加急,最快1.5个工作日(特殊样品除外)
CMA、CNAS、CAL
样品支持快递取送/上门采样,数量及规格等视检测项而定
电议(检测的标准和检测项目数量不同而价格不同)
检测标准:基于离散半导体元件应力测试认证的失效机理 AEC-Q101D1-2013 10
检测对象:电子半导体产品和系统
检测项目:间歇运行寿命试验
检测标准:半导体分立器件试验方法 GJB128A-97 方法:1036
检测对象:电子半导体产品和系统
检测项目:间歇运行寿命试验
检测标准:微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法:1006
检测对象:电子半导体产品和系统
检测项目:间歇运行寿命试验
检测标准:功率温度循环 JESD22-A105-2011
检测对象:电子半导体产品和系统
检测项目:间歇运行寿命试验
检测标准:半导体器件试验方法 MIL-STD-750F-2012 方法:1037
检测对象:电子半导体产品和系统
检测项目:间歇运行寿命试验
检测标准:微电子器件试验方法 MIL-STD-883L-2019 方法:1006
检测对象:电子半导体产品和系统
检测项目:间歇运行寿命试验