太阳辐射试验的目的是为了确定地面上或较低大气层中使用或储存的电子电工产品受太阳辐射所引起的热效应、光化学效应以及对产品的机械性能和电性能的影响
样品类型
外墙材料,印刷品,军用装备等。
实验类型
直接自然大气曝晒(ASTM G7,ASTM D4156 0190 2607等)
黑箱曝晒(SAE J1976,ISO 877等)
太阳跟踪IP/DP箱曝晒试验(ISO 2810,ISO 105-B03等)
玻璃下曝晒(GB/T 3681,GB/T 9276等)
太阳跟踪聚光加速试验(GB/T 3511,GB/T 15596等)
相关标准
1GB/T 2423.24-2013环境试验 第2部分:试验方法 试验Sa:模拟地面上的太阳辐射及其试验导则
2GB/T 4797.4-2006电工电子产品 自然环境条件 太阳辐射与温度
3GB/T 4797.4-2019环境条件分类 自然环境条件 太阳辐射与温度
4GB/T 5170.9-2017环境试验设备检验方法 第9部分:太阳辐射试验设备
5GB/T 12085.9-2010光学和光学仪器 环境试验方法 第9部分:太阳辐射
6GB/T 12085.17-2011光学和光学仪器 环境试验方法 第17部分 污染、太阳辐射综合试验
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