光耦合器检测

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光耦合器检测

随着光电耦合器的日益稳定且普遍的情况下,市场上出现了许许多多、各式各样的光耦,因此山寨牌的光耦也浮现出来了,为了让广大的消费者能买到好的光耦,亿光代理商超毅电子跟大家讲解一下如何检查光耦的好坏:

判断光耦的好坏,可在路测量其内部二*管和三*管的正反向电阻来确定。更可靠的检测方法是以下三种。

1、比较法拆下怀疑有问题的光耦,用万用表测量其内部二*管、三*管的正反向电阻值,用其与好的光耦对应脚的测量值进行比较,若阻值相差较大,则说明光耦已损坏。

2、数字万用表检测法下面以EL817光耦检测为例来说明数字万用表检测的方法,检测电路如图1所示。检测时将光耦内接二*管的+端{1}脚和——端{2}脚分别插入数字万用表的Hfe 的c、e插孔内,此时数字万用表应置于NPN挡;然后将光耦内接光电三*管C*{5}脚接指针式万用表的黑表笔,e*{4}脚接红表笔,并将指针式万用表拨在RX1k挡。

相关标准

检测标准:半导体器件 光电子器件分规范(可供认证用)

检测对象:光耦合器

检测项目:逻辑低电压水平

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