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CMA、CNAS、CAL
样品支持快递取送/上门采样，数量及规格等视检测项而定
电议（检测的标准和检测项目数量不同而价格不同）
急速响应
全程跟踪
品质严保
1引言
通常,本标准需要与GB/T 17573—1998和GB/T16464--1996标准一起使用。在GB/T 17573和GB/T16464标准中,可查到下列的全部基本资料:
—--术语﹔
—文字符号﹔
一--基本额定值和特性;——测试方法﹔
-—接收和可靠性。
2范围
本标准给出了下列各类或各分类器件的标准:一—组合和时序数字电路﹔
-—存储器集成电路﹔
——微处理器集成电路;———电荷转移器件。
3术语和文字符号
1组合和时序集成电路的术语
1.1通用术语
信号是信息的物理表示.数字信号是与时间有关的物理量的状态或变化,这个物理量具有数目有限的几个不重叠的值域。数字信号可用于信息的传输或信息处理。考虑到实际情况，下面选择了一-些简化的定义。对于数字电路，一般不会产生误解或歧义。
1.1.1数字信号digital signal
不重叠值域为有限的随时间变化的物理量,用于信息的传输和处理。
检测标准：半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路
检测对象：复杂可编程逻辑器件
检测项目：传输时间t<Sub>PD</Sub>
检测标准：半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路
检测对象：复杂可编程逻辑器件
检测项目：保持时间
检测标准：半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路
检测对象：复杂可编程逻辑器件
检测项目：动态电源电流VCCSB
检测标准：半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路
检测对象：复杂可编程逻辑器件
检测项目：建立时间
检测标准：半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路
检测对象：复杂可编程逻辑器件
检测项目：输入低电平电压VIL
检测标准：半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路
检测对象：复杂可编程逻辑器件
检测项目：输入漏流II
检测标准：半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路
检测对象：复杂可编程逻辑器件
检测项目：输入高电平电压VIH
