范围
本标准规定了半导体发光二*管(以下简称器件)的辐射度学、光度学、色度学、电学、热学参数以及电磁兼容性的测试方法。
本标准适用于可见光、白光半导体发光二*管。紫外发射二*管、红外发射二*管、半导体发光组件和芯片的测试可参考执行。
规范性引用文件
下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的*新版本。凡是不注日期的引用文件，其*新版本适用于本标准。
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GB/T 4365- -2003 ?电工术语电磁兼容(IEC 60050(161): 1990，IDT)
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GB/T 15651- 1995半导体器件分立器件和集成电路第5部分: 光电子器件CIEC 60747-5:1992, IDT)
CIE 127: 1997. 技术报告LED测量
ANSI/ESD STM 5.1 :2001~静电放电敏感性试验-网人体模式
ANSI/ESD STM 5. 2:1999静电放电敏感性试验-一机器 模式
