锗单晶和锗单晶片检测

《锗单晶和锗单晶片》(GB/T 5238-2019)是2020年5月1日实施的一项中华人民共和国国家标准，归口于全国半导体设备和材料标准化技术委员会。

国家标准《锗单晶和锗单晶片》(GB/T 5238-2019)规定了锗单晶和错单晶片的要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存、质量证明书及订货单(或合同)内容，该标准适用于制备半导体器件、激光器组件、红外光学部件用的锗单晶和锗单晶片。

编制进程

2016年12月28日，国家标准计划《锗单晶和锗单晶片》(20162490-T-469)下达，项目周期24个月，由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)和TC203SC2(全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会)共同提出，由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口上报，TC203SC2(全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会)执行，主管部门为中华人民共和国国家标准化管理委员会。

2019年6月4日，国家标准《锗单晶和锗单晶片》(GB/T 5238-2019)由中华人民共和国国家市场监督管理总局和中华人民共和国国家标准化管理委员会发布。

2020年5月1日，国家标准《锗单晶和锗单晶片》(GB/T 5238-2019)实施，全部替代国家标准《锗单晶和锗单晶片》(GB/T 5238-2009)

修订依据

国家标准《锗单晶和锗单晶片》(GB/T 5238-2019)依据中国国家标准《标准化工作导则 第1部分：标准的结构和编写》(GB/T 1.1-2009)规则起草。