检测地点
检测周期
报告资质
样品及邮寄要求
价格
实验室遍布全国,就近分配
可加急,最快1.5个工作日(特殊样品除外)
CMA、CNAS、CAL
样品支持快递取送/上门采样,数量及规格等视检测项而定
电议(检测的标准和检测项目数量不同而价格不同)
检测标准:半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法
检测对象:FPGA静态参数
检测项目:输入低电平电压(VIL)
检测标准:半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法
检测对象:FPGA静态参数
检测项目:输入高电平电压(VIH)
检测标准:半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法
检测对象:FPGA静态参数
检测项目:输出低电平电压(VOL)
检测标准:半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法
检测对象:FPGA静态参数
检测项目:输出高电平电压(VOH)
检测标准:半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法
检测对象:FPGA静态参数
检测项目:配置数据能保持的最低内核电源电压(VDRINT)
检测标准:半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法
检测对象:FPGA静态参数
检测项目:配置数据能保持的最低接口电源电压(VDRIO)
检测标准:半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法
检测对象:FPGA静态参数
检测项目:静态接口电源电流(ICCQQ)
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