检测标准：
GB/T 14028-2018半导体集成电路 模拟开关测试方法
适用范围：
本标准规定了双*、MOS、结型场效应半导体集成电路模拟开关(以下称为器件)参数测试方法。 本标准适用于半导体集成电路模拟开关，也适用于多路转换器参数的测试。
引用如下标准
GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路
检测项目：
模拟电压工作范围、导通电阻、导通电阻路差、截止态漏*漏电流、截止态源*漏电流、导通态漏电流、开启时间、关断时间、通道转换时间、*高控制频率、截止态隔离度、截止态馈通频率、导通态串扰衰减、输入串扰衰减、控制信号串扰、导通电阻路差率、导通电阻温度漂移率、通道转换无效输出时间、电荷注入量
