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检测标准:半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理
检测对象:电压比较器
检测项目:低电平选通电流IST(L)
ADC数字输入高电平、数字输入低电平电压、数字输入高电平电流、数字输入低电平电流 SJ 20961-2006 集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ20961-2006 5.2.14
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输入低电平电流 MIL-STD-883L 微电路测试方法标准 -2019
高电平选通电流I<Sub>ST(H) GB/T 6798-1996 半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理
低电平选通电流IST(L) GB/T 6798-1996 半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理
低电平选通电流I<Sub>ST(L)</Sub> GB/T 6798-1996 半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理
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