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CMA、CNAS、CAL
样品支持快递取送/上门采样,数量及规格等视检测项而定
电议(检测的标准和检测项目数量不同而价格不同)
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152-0173-3840
检测标准:认定方法:高功率LED的电气和光度测量 IES LM-85-14 7
检测对象:LED芯片
检测项目:光学测量和设备
光强分布或光学角度分布测量 IESLM 79-19 固态照明产品光学和电气测量方法 IES LM 79-19
咨询报价
光学 IESLM-9-20 荧光灯电和测量方法 IES LM-9–20
总光通量和综合光学测量 IESLM-79-19 认可方法:固态照明产品的光学和电气测量 IES LM-79-19
光强或光学角度分布 IESLM-79-19 固态照明产品光学和电气测量方法
光学测量和设备 IESLM-85-14 认定方法:高功率LED的电气和光度测量 IES LM-85-14
总光通量及综合光学测量 IESLM-79-19 固态照明产品的光学和电气测量 IES LM-79-19
反射比 光学和光学仪器—平面光学元件的透射比和反射比测量 ISO 15368-2021
测量范围 GB/T 17341-1998 【强改推】光学和光学仪器 焦度计
光学测量和设备 IESLM-85-147 认定方法:高功率LED的电气和光度测量 IES LM-85-14 7
光强或光学分布测量 IESLM-79-198 固态照明产品光学和电气测量方法 IES LM-79-19 8
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