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检测标准:军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 工作项目1201、1202
检测对象:军用电子元器件
检测项目:光电器件DPA试验
DPA试验 GJB 4027A-2006 军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 0100,0200
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隔离试验 半导体器件–分立器件–第5-5部分:光电子器件–光电耦合器
最终试验 半导体器件–分立器件–第5-5部分:光电子器件–光电耦合器
温度循环试验 GJB 4508-2002 光电器件环境应力筛选通用要求 5.2.4
振动试验 GJB 4508-2002 光电器件环境应力筛选通用要求 5.2.3
继电器DPA试验 GJB 4027A-2006 军用电子元器件破坏性物理分析方法 工作项目0701、0702、0703
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