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实验室遍布全国,就近分配
可加急,最快1.5个工作日(特殊样品除外)
CMA、CNAS、CAL
样品支持快递取送/上门采样,数量及规格等视检测项而定
电议(检测的标准和检测项目数量不同而价格不同)
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152-0173-3840
检测标准:半导体发光二极管测试方法
检测对象:半导体发光二极管
检测项目:光通量效率
光通量 CIE 121:19964
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方法2003:光通量和光通量效率 SJ/T 11394-2009 半导体发光二极管测试方法
光通量和光通量效率 GB/T 15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法
光通量 2010
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