内部目检及形貌分析检测

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内部目检及形貌分析检测

相关标准

检测标准：《半导体分立器件失效分析方法和程序》 GJB 3157-1998 方法3002

检测对象：电子元器件

检测项目：内部目检及形貌分析

检测标准：《半导体集成电路失效分析程序和方法》 GJB 3233-1998 第5.2.10条

检测对象：电子元器件

检测项目：内部目检及形貌分析

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内部目检及形貌分析 GJB 3233-1998 《半导体集成电路失效分析程序和方法》第5.2.10条

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