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剖面金相分析检测

相关标准

检测标准：《半导体分立器件失效分析方法和程序》 GJB 3157-1998 方法4008

检测对象：电子元器件

检测项目：剖面金相分析

检测标准：《半导体集成电路失效分析程序和方法》 GJB 3233-1998 第5.3.1条

检测对象：电子元器件

检测项目：剖面金相分析

检测标准：半导体集成电路失效分析程序和方法 GJB3233-98 5.3.1

检测对象：半导体集成电路

检测项目：剖面金相分析

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