功耗 <I>P</I><Sub>D</Sub>检测

室温拉伸 <i>R</i>_t0.5、<i>R</i>_p0.2、<i>R</i>_m、<i>R</i>_eL、<i>R</i>_eH、<i>A</i> ASTM E8/E8M-2011 金属材料抗拉试验方法

<I>R</I>_m、<I>F</I>_m、<I>F</I>_p0.2、<I>A</I>_gt GB/T 228.1-2010 金属材料 拉伸试验 第1部分:室温试验方法

静态功耗 <I>P</I><Sub>D</Sub> GB/T 6798-1996 半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理

功耗 <I>P</I><Sub>W</Sub> GJB 9388-2018 集成电路模拟数字、数字模拟转换器测试方法 6.23,7.20

抗拉强度<i>R</i>_m、下屈服强度<i>R</i>_eL、上屈服强度<i>R</i>_eH、断后伸长率<i>A</i>、规定塑性延伸强度<I>R</I>_p0.2 GB/T 228.1-2010 金属材料 拉伸试验 第1部分:室温试验方法

<I>R</I>_m、<I>F</I>_m、<I>F</I>_p0.2、<I>A</I>_gt GB/T 21839-2019 预应力混凝土用钢材试验方法

<I>R</I>_m、<I>F</I>_m、<I>F</I>_p0.2、<I>A</I>_gt GB/T 5223-2014 预应力混凝土用钢丝

静态功耗 <I>P</I><Sub>D</Sub> GJB 9147-2017 半导体集成电路运算放大器测试方法 5.7,6.7