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CMA、CNAS、CAL
样品支持快递取送/上门采样,数量及规格等视检测项而定
电议(检测的标准和检测项目数量不同而价格不同)
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检测标准:半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路
检测对象:数字集成电路
检测项目:功能测试(FUN)
功能测试(ATE_FUN.1) GB/T 20276-2016 信息安全技术 具有中央处理器的IC卡嵌入式软件安全技术要求
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功能测试(ATE_FUN.1) GB/T 22186-2016 信息安全技术 具有中央处理器的IC卡芯片安全技术要求
功能测试(FUN) GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路
顺序的功能测试(ATE_FUN.2) GB/T 22186-2016 信息安全技术 具有中央处理器的IC卡芯片安全技术要求
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