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可加急,最快1.5个工作日(特殊样品除外)
CMA、CNAS、CAL
样品支持快递取送/上门采样,数量及规格等视检测项而定
电议(检测的标准和检测项目数量不同而价格不同)
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152-0173-3840
检测标准:半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路
检测对象:半导体器件集成电路存储器
检测项目:动态条件下的总电源电流
动态条件下的总电源电流I<SUB>CC</SUB> GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路
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