栅-源截止电压<I>V</I><Sub>GSoff</Sub>检测

栅源截止（漏泄）电流<I>I</I><Sub>GSS</Sub> GB/T 4586-1994 半导体器件 分立器件 第8部分:场效应晶体管

栅-源截止电压（A和B型）（<I>V</I><Sub>GSoff</Sub>） GB/T 4586-1994 半导体器件 分立器件 第8部分:场效应晶体管

截止态源极漏电流<I>I</I><Sub>S</Sub>(off) GB/T 14028-2018 半导体集成电路 模拟开关测试方法

栅-源截止电压 <I>V</I><Sub>GS(OFF</Sub><Sub>）</Sub> GB/T 4586-1994 半导体器件 分立器件 第8部分:场效应晶体管

源栅阈值电压<I>V</I><Sub>GS(TO)</Sub> GB/T 4586-1994 半导体器件 分立器件 第8部分:场效应晶体管

集电极截止电流 <I>I</I><Sub>CES</Sub> GB/T 29332-2012 半导体器件 分立器件 第9部分:绝缘栅双极晶体管(IGBT)

栅-源阈值电压（C型）（<I>V</I><Sub>GS</Sub><Sub>（</Sub><Sub>TO</Sub><Sub>）</Sub>） GB/T 4586-1994 半导体器件 分立器件 第8部分:场效应晶体管

栅-源截止电压V<Sub>GSoff</Sub> GB/T 4586-1994 半导体器件 分立器件 第8部分:场效应晶体管

截止态源极漏电流<I>I</I><Sub>S（OFF）</Sub> GB/T 14028-2018 半导体集成电路 模拟开关测试方法

栅-源阈值电压 <I>V</I><Sub>GS(TO</Sub><Sub>）</Sub> GB/T 4586-1994 半导体器件 分立器件 第8部分:场效应晶体管