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检测标准:半导体器件 分立器件 第9部分:绝缘栅双极晶体管(IGBTs)
检测对象:绝缘栅双极型晶体管
检测项目:短路耐受时间
检测标准:半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 3479
短路保护与短路耐受强度试验 JB/T 10695-2007 低压无功功率动态补偿装置
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