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CMA、CNAS、CAL
样品支持快递取送/上门采样,数量及规格等视检测项而定
电议(检测的标准和检测项目数量不同而价格不同)
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152-0173-3840
检测标准:半导体器件 分立器件和集成电路 第5部分:光电子器件
检测对象:光电子器件
检测项目:红外发射二极管的辐射强度
辐射强度 GB/T 12565-1990 半导体器件 光电子器件分规范(可供认证用)
咨询报价
恒定加速度 GB/T 6588-2000 半导体器件 分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二极管 第1篇 信号二极管、开关二极管和可控雪崩二极管空白详细规范
红外发射二极管的辐射强度 GB/T 15651-1995 半导体器件 分立器件和集成电路 第5部分:光电子器件
振动 GB/T 6588-2000 半导体器件 分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二极管 第1篇 信号二极管、开关二极管和可控雪崩二极管空白详细规范
反向电流 GB/T 6588-2000 半导体器件 分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二极管 第1篇 信号二极管、开关二极管和可控雪崩二极管空白详细规范
发光强度 GB/T 12565-1990 半导体器件 光电子器件分规范(可供认证用)
平均发光强度 SJ/T 11624-2016 发光二极管(LED)显示屏用发光二极管规范
半导体发光二极管 SJ/T 11394-2009 半导体发光二极管测试方法
稳态湿热 GB/T 6588-2000 半导体器件 分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二极管 第1篇 信号二极管、开关二极管和可控雪崩二极管空白详细规范
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