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检测标准:半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理
检测对象:半导体集成电路
检测项目:静态电源电流I<Sub>DD</Sub>
工作状态时<I>V</I><Sub>DD</Sub>电源电流<I> I</I><Sub>DD</Sub> SJ/T 10739-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理
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