静态高温长时间保存下数据退化检测检测
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电议（检测的标准和检测项目数量不同而价格不同）
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相关标准
检测标准：工业级高可靠集成电路评价 第 8 部分： MCU 芯片 T/CIE 073—2020 5.9.4
检测对象：集成电路-MCU 芯片
检测项目：静态高温长时间保存下数据退化检测
检测标准：工业级高可靠性集成电路评价 第 6 部分： 蓝牙芯片 T/CIE 071—2020 5.4.4
检测对象：集成电路-蓝牙芯片
检测项目：静态高温长时间保存下数据退化检测
检测标准：工业级高可靠集成电路评价 第 15 部分： 超高频射频识别 T/CIE 080—2020 5.8.4
检测对象：集成电路-超高频射频识别芯片
检测项目：静态高温长时间保存下数据退化检测
检测标准：工业级高可靠集成电路评价 第 4 部分：非易失性存储器 T/CIE070—2020 5.6.4
检测对象：集成电路-非易失性存储器
检测项目：静态高温长时间保存下数据退化检测
检测标准：工业级高可靠集成电路评价 第 16 部分： 高频射频识别 T/CIE 081—2020 5.9.4
检测对象：集成电路-高频射频识别芯片
检测项目：静态高温长时间保存下数据退化检测
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